激光扫描加工图形控制模型的研究

摘要：

针对激光扫描加工中存在固有图形畸变的情况,提出了DEA(dual-ends approch)控制模型.由于该模型不仅考虑了透镜焦距f、激光入射角θ、振镜偏转角和光学镜组之间的距离,而且还考虑了透镜中心厚度、透镜曲面曲率半径以及透镜介质折射率,因此提高了激光扫描加工系统的加工精度,减小了加工误差.同时利用VC++6.0编制了一个对话框程序,对传统fθ控制模型和DEA控制模型进行了分析比较,结果显示,DEA控制模型能正确表达所设计的加工图形,其精度高于fθ图形控制模型.

关键词：激光扫描加工、控制模型、fθ模型、DEA模型

分类号：TN2(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2006-12-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：62-64