用衍射场叠加法分析四种误差下的X光波带片

摘要：

利用叠加所有圆环的解析近似衍射场的方法来计算和分析随机环带位置误差、宽度误差、扩散和粗糙度对X射线波带片的效率和分辨率的影响.用Strehl比来量化和衡量与理想波带片有偏差的波带片的性能,对两个波带片例子分别用Strehl极限确定了其能容许的四种误差极限.以一个Ni软X射线波带片为例,用叠加圆环衍射场的方法分析了随机环带位置误差和宽度误差对主焦点效率和分辨率的影响;以一个SiO2/Ni硬X射线溅射切片波带片为例,计算了两种材料的相互扩散和粗糙度对衍射效率和分辨率的影响.计算结果表明,四种误差越大,主焦点效率越小,分辨率越差,对第一个波带片例子而言,随机环带位置误差均方根和宽度误差均方根小于最外环宽度的30%;而对于第二个波带片例子,扩散区宽度和粗糙度均方根分别小于最外环宽度的105%和50%时,得到的Strehl比在Strehl极限之上.

关键词：X射线波带片、衍射、环带位置误差、宽度误差、扩散、粗糙度

分类号：TN305.7(半导体技术)

在线出版日期：2006-03-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：25-30