期刊专题

微测辐射热计用氧化钒薄膜制备及特性

引用
热敏薄膜电阻制备是非致冷微测辐射热计红外焦平面的一项关键技术.对目前在非致冷微测辐射热计研制中得到成功应用的氧化钒薄膜的特性、制备及表征技术进行综述.氧化钒存在多种物相和结构(VOx:0<x≤2.5),它们具有不同的半导体、金属导电特性,某些相在一定温度下会发生半导体-金属相变,材料的电阻率和光学透射率在这些相变温度附近会发生极大的变化.有的氧化钒(x≈2)在室温附近具有较高的电阻温度系数,可达(-2~-4)%K-1.目前制备氧化钒薄膜有蒸发、溅射、脉冲激光沉积、溶胶-凝胶、氧化还原等方法,其中溅射法具有大面积均匀、工艺温度低、与衬底附着力强、与集成电路工艺兼容性好等诸多优点,在非致冷微测辐射热计红外焦平面的研制中有很好的应用前景.

氧化钒、电阻温度系数、溅射

TB43(工业通用技术与设备)

2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共10页

45-53,65

暂无封面信息
查看本期封面目录

微细加工技术

1003-8213

43-1140/TN

2002,(4)

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn