GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测
利用X射线DR成像技术对盆式绝缘子进行可视化无损检测,在不拆解和破坏GIS(气体绝缘全封闭组合电器)设备的情况下,实现了对盆式绝缘子的透照及缺陷检测;利用正交试验法找出了X射线机透照的最优参数设置,减少了试验次数,提高了试验效率.结果表明,X射线DR成像技术可以识别出盆式绝缘子的裂纹和气泡类缺陷.
X-DR成像技术、盆式绝缘子、无损检测、正交试验、缺陷检测
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TG115.28(金属学与热处理)
南方电网科技资助项目GDKJ00000035
2018-01-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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