多信息超声相控阵缺陷检测

摘要：

通过设计虚拟聚焦试验,验证了超声相控阵检测对各个阵元信号进行合成后的A扫信号具有更高的信噪比,从而在使用A扫信号进行成像时,可以提高图像的分辨率,使得缺陷的成像质量更高;更进一步地说明了阵元越多,能够得到试件的信息越多,利用信息形成的图像质量也就越高,检测结果就会更加接近缺陷的真实情况.

关键词：超声相控阵、A扫信号、多信息、成像

所属期刊栏目：39

分类号：TB553;TG115.28(声学工程)

在线出版日期：2017-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：49-52