正电子湮没无损测试技术与应用

摘要：

介绍了一种探测和表征物质微观结构的技术——正电子湮没无损测试技术.该技术可用于固体物理晶体缺陷、材料相结构与相结构转变的研究,是一种研究物质微观结构、缺陷、疲劳等的无损测试新技术.根据该技术与方法的固有特征,判定该技术在飞机、导弹质量控制中极具有发展和应用前景.

关键词：正电子湮没、疲劳、微观、无损检测

所属期刊栏目：35

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2013-12-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：72-75,86