基于几种超声压电晶片阵列的金属板缺陷成像

摘要：

结合椭圆定位方法,分别采用了线型、十字型和时钟型超声压电晶片阵列对金属薄板中缺陷进行成像识别.根据Lamb波在薄板中的传播分析,选取激励信号及其参数,构建超声信号检测模型.依据椭圆轨迹原理进行成像,判断薄板中有无缺陷存在.通过压电陶瓷晶片加载脉冲激励信号,分别对三种情况进行数据处理并成像.结果证明十字型和时钟型阵列能有效地对缺陷成像,并避免了成像过程中的虚像.

关键词：Lamb波检测、缺陷识别、超声成像、阵列技术、虚像

所属期刊栏目：35

分类号：TG115.28;TB553(金属学与热处理)

资助基金：铁道部科技研究开发计划资助项目2011J011-E

在线出版日期：2013-06-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

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