192Ir单/双源无损探伤技术在JFE-HITEN610U2L低温球罐中的应用

摘要：

为了减少球罐施工中无损探伤工作量和工期,经实践证明,采用192Ir源并配合T2类胶片的整体探伤方案可以在JFE-HITEN610U2L低温球罐焊缝无损探伤中使用,并且底片黑度和像质计灵敏度都达到了标准要求.此方案较传统的X射线探伤方式在工期、质量、HSE管理方面更有优势.这也是新版JB/T 4730-2005《承压设备无损检测》中关于γ源探伤相关要求的成功应用.

关键词：JFE-HITEN610U2L、乙烯、丙烯、球罐、192 Ir源、X射线探伤

所属期刊栏目：33

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2011-12-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：57-60