TFT面阵探测器X射线数字透射成像

摘要：

通过对裂纹模拟缺陷试件的数字透射成像检测试验,分析并研究了面阵探测器成像检测系统、透照参数、检测工艺与检测图像质量的关系,并给出了检测过程中应该注意的问题.具体试验表明:面阵探测器X射线数字成像系统在一定厚度范围内的检测效果(主要是图像的单丝像质计指数)优于同厚度的射线照相B级要求.

关键词：面阵列探测器、数字透射成像、检测参数、图像质量

所属期刊栏目：33

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

资助基金：国防科技工业技术基础科研课题基金资助项目T2007A001

在线出版日期：2011-12-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：32-34