新一代X射线探测器在射线实时成像检测中的应用

摘要：

介绍非晶硅(a-Si)平板探测器的技术特性,及其取代常用的图像增强器在焊缝和铸件的工业射线实时成像(RTR)检测中的应用.试验结果证明,选用适当型号的a-Si平板探测器,可获得优于图像增强器的像质计(IQI)灵敏度和空间分辨率.

关键词：非晶硅(a-Si)、平板探测器、图像增强器、射线实时成像、射线直接数字成像、像质计灵敏度、空间分辨率

所属期刊栏目：28

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2006-10-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：488-490,492