10.3969/j.issn.1000-6656.2005.10.007
表面开口缺陷深度与漏磁场的关系
由磁偶极子理论证明,表面开口缺陷引起的漏磁场H正比于(d/2-kδ),其中d是缺陷深度,而δ是取决于工件和缺陷横截面的形状与尺寸的一较小长度,k是一个系数,它取决于缺陷侧壁上的磁荷分水岭.从而可以得出结论,当d很小时,H与d间近似为线性关系;而d增大时,它们之间则呈非线性关系.
磁性检测、表面开口缺陷、缺陷深度、漏磁场
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TG115.28(金属学与热处理)
国家自然科学基金59571064
2005-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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