X射线ICT检测中康普顿散射效应的影响与修正

摘要：

在X射线工业计算机层析检测(ICT)中,由于X射线与物质作用发生康普顿散射效应,有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影.运用康普顿散射强度方程,结合X射线与物质相互作用的特性,推出X射线ICT中的散射修正公式,并由圆形截面工件散射模型,求出圆形截面工件的具体计算积分限.从探测器探测到的总光子数中减去康普顿散射光子数,即可有效去除散射光子造成的伪影.

关键词：X射线检验、工业计算机层析技术、康普顿散射效应、散射修正

所属期刊栏目：26

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2004-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：336-338