HgCdTe中少数载流子寿命的微波反射法测量

摘要：

用微波反射法测量HgCdTe中少数载流子寿命.分析了其测量原理,并与接触式的光电导衰减法进行了对比.结果表明,被测样品HgCdTe中的电学性能并不均匀,用微波反射法更能真实地反映样品光照区域少数载流子的寿命.

关键词：微波检验、载流子、寿命

所属期刊栏目：26

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：28-29,53