10.3969/j.issn.1000-6656.2003.09.005
缺陷大小和深度的红外检测
介绍红外层析检测的基本原理.为定量测定缺陷,提出由有缺陷区域表面温度和由表面温差达到最大值的峰值时间确定缺陷深度的两种红外检测方法,同时给出由红外热图像确定缺陷尺寸的方法,结果是这些方法更适合于试件浅表面较大面积的缺陷.
红外线检验、热像图、温度场、缺陷、深度测量
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TG115.28(金属学与热处理)
国家自然科学基金E05020402
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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