一种忆阻器阵列的阻值调制测试系统

摘要：

忆阻器因操作速度快、单元结构简单和易于三维集成等特性而被广泛研究.对忆阻器电阻调制是实现多值存储和存算一体的基础.由于忆阻器单元在操作过程中有读验证,需要在脉冲激励和读验证之间不断切换,在阻值调制过程中,切换频率尤为频繁,然而,商用集成电路测试机采用继电器的切换方式具有寿命短和切换时间长等缺点,难以满足测试要求.基于此,以MCU为主控制器,采用多通道DAC和ADC来实现脉冲激励和电流测量,采用4级量程来扩大阻值测量范围,采用高速模拟开关切换脉冲操作和读验证来提高测试速度,采用多次等幅度与幅度渐变组合的方式来对阻值进行精细化调控,编写测试软件,设计了一款忆阻器阵列的测试系统.通过在华力40 nm工艺的256 KB忆阻器阵列的验证,测试结果显示,该系统能够满足忆阻器阵列基本操作和阻值调制功能.

关键词：忆阻器、阻值调制、测试系统、多量程电流测量

所属期刊栏目：3

分类号：TP23(自动化技术及设备)

资助基金：国家重点研发计划;科技创新重大项目;中国科学院科研仪器设备研制项目

在线出版日期：2022-11-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：72-77