10.19816/j.cnki.10-1594/tn.2020.02.041
先进光谱椭偏测量技术及其在OLED中的应用
阐述光谱椭偏测量技术基本原理和椭偏测量数据分析方法,发展宽光谱穆勒矩阵椭偏仪等先进光谱椭偏测量技术和仪器.利用光谱椭偏测量技术精确标定典型OLED(organic light-emitting diode)材料基础光学数据,分析揭示有机材料分子取向及其导致的光学各向异性.构建复杂叠层有机发光器件光学计算模型,模拟分析其关键性能参数,提出光学协同优化设计方法,指导高性能OLED器件设计.结果和讨论展示了光谱椭偏技术在OLED材料与器件表征以及高性能OLED器件设计中的应用.
光谱椭偏、有机发光二极管、纳米薄膜测量、光学常数表征、分子取向、光学各向异性、光学模拟、协同优化设计
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TH74(仪器、仪表)
国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金;中国博士后基金
2022-11-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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