光纤放大器放大自发辐射特性与高温易损点位置

摘要：

在高功率光纤放大器实验中,时常发现增益光纤抽运注入熔接点后10—50 cm处容易发生光纤烧毁现象.为了对该现象进行理论预测,基于光纤激光器速率方程模型和增益光纤的热传导模型,从种子功率、抽运功率和抽运吸收三个方面对掺镱双包层光纤放大器中的放大自发辐射(ASE)和温度特性进行研究.结果表明,在放大倍率较高、ASE较为严重等情况下,光纤放大器中的最高温度点一般不在抽运注入的熔接点处,而在距离熔接点10—50 cm处,与实验中发现光纤烧毁的位置基本符合.从光纤放大器的ASE抑制、最高温度点温度控制角度出发,对光纤放大器在种子功率、抽运功率、抽运吸收、放大倍率和抽运波长等方面的设计给出了指导性的建议.

关键词：光纤放大器、放大自发辐射、温度特性

所属期刊栏目：66

分类号：TN2;TN9

资助基金：国家自然科学基金 批准号: 61505260, 61735007 资助的课题. Project supported by the National Natural Science Foundation of China Grant . 61505260, 61735007

在线出版日期：2017-12-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共15页

页码：189-203