期刊专题

10.7498/aps.64.118501

利用温变电容特性测量发光二极管结温的研究?

引用
结区的温度,简称结温,是发光二极管(LED)的重要参数之一,它对LED 器件的出光效率、光色、器件可靠性和寿命均有很大影响,准确测量LED器件的结温对制备LED芯片、器件封装和应用有着重要的意义。本文利用反向偏压下的LED的势垒电容随温度变化的特性,提出了一种LED结温测量的新方法。论文首先测量和分析了LED在室温下反向偏压时的电容-电压(C-V )曲线和不同反向偏压下的电容-温度(C-T )曲线,结果表明,在合适的偏压下, LED的电容随温度的增大而显著增加,并呈现良好的线性关系。在LED工作中监测其电容的变化,并与C-T曲线进行对比,实现了LED结温的测量,其测量结果和传统的正向电压法的结果相对比,两者符合较好。最后,利用上述方法测量了LED 在恒流和恒压条件下的结温的实时变化过程。较传统的结温测量方法,本方法的优点在于只须要一次定标测量,且可实现LED在任意电压和电流下的结温测量。

发光二极管、电容-电压、结温

国家自然科学基金61204049;广东省自然科学基金S2012040007363;广东省教育厅育苗工程自然科学项目2012LYM_0058资助的课题

2015-06-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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物理学报

1000-3290

11-1958/O4

2015,(11)

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