偏置条件对NPN及PNP双极晶体管电离辐射损伤的影响研究*

摘要：

本文采用低能电子辐照源对NPN及PNP晶体管进行辐照试验.在辐照试验过程中,针对NPN及PNP晶体管发射结施加不同的偏置条件,研究偏置条件对NPN及PNP晶体管辐射损伤的影响.使用Keithley 4200-SCS半导体特性测试仪在原位条件下测试了双极晶体管电性能参数随低能电子辐照注量的变化关系.测试结果表明,在相同的辐照注量条件下,发射结反向偏置时双极晶体管的辐照损伤程度最大;发射结正向偏置时双极晶体管的辐照损伤程度最小;发射结零偏时双极晶体管的辐照损伤程度居于上述情况之间.

关键词：双极晶体管、低能电子、电离辐射

在线出版日期：2013-05-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：477-482