Al等离子体类锂伴线的布居机制分析及实验应用
基于K壳层稳态碰撞辐射模型的程序,详细分析Al等离子体类锂伴线的主要布居机制,分别给出1s2p22P—1s22p2P,1s2s2p(1S)2P—1s22s2S与1s2p22D—1s22p2P这两组类锂伴线的线强比随电子温度和密度的变化趋势.研究发现,这两组伴线线强比对电子密度敏感而对电子温度不敏感,可以将它们用于高温高密度等离子体的密度诊断.同时,给出了类氦的互组合线与共振线的线强比随电子密度的变化情况.计算结果表明,在高密度下互组合线的线强由于受到周边的不可分辨的类锂伴线线强的影响,线强比会出现明显的偏大.最后给出了"神光-Ⅱ"装置上获得的Al平面靶激光等离子体发射谱和理论模拟谱,并给出了相应的电子温度和密度.
碰撞辐射模型、类锂伴线、线强比、激光等离子体
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O536(等离子体物理学)
国家自然科学基金10874156 10875109
2012-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
425-430