基于双电源电压和双阈值电压的全局互连性能优化

摘要：

基于双电源电压和双阈值电压技术,提出了一种优化全局互连性能的新方法.文中首先定义了一个包含互连延时、带宽和功耗等因素的品质因子用以描述全局互连特性,然后在给定延时牺牲的前提下,通过最大化品质因子求得优化的双电压数值用以节省功耗.仿真结果显示,在65 nm工艺下,针对5%,10%和20%的允许牺牲延时,所提方法相较于单电压方法可分别获得27.8%,40.3%和56.9%的功耗节省.同时发现,随着工艺进步,功耗节省更加明显.该方法可用于高性能全局互连的优化和设计.

关键词：全局互连、双电源电压、双阈值电压、功耗

所属期刊栏目：60

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金60606006;国家杰出青年基金60725415;西安电子科技大学基本科研业务费资助的课题

在线出版日期：2011-07-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：502-509