光学元件群延迟的直接测量

摘要：

提出了一种测量群延迟的新方法,利用白光干涉仪产生的光谱干涉,通过时间频率联合分析直接得出群延迟,减小了传统相位差分方法产生的误差,并通过测量结果减去系统背景,进一步提高了光学元件色散测量的准确度.该方法适合于具有复杂色散光学元件群延迟和色散的准确测量,也适合于慢光器件群速度延迟的测量.

关键词：色散测量、白光干涉、时间频率分析、超快激光

所属期刊栏目：60

分类号：O4(物理学)

资助基金：国家科技支撑计划项目2006BAF06B05;中国计量科学研究院基本科研业务费项目AKY0904;AKY0748

在线出版日期：2011-06-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：712-716