微结构对Eu掺杂Bi4Ti3O12铁电薄膜铁电性能的影响

摘要：

采用金属有机物分解法在Pt/Ti/Si(111)基底上制备了退火温度分别为600℃,650 ℃,700 ℃的Bi3.15Eu0.85Ti3O12(BET)铁电薄膜,并对其结构及铁电性能进行了测试,再使用扫描探针显微镜对BET薄膜的电畴翻转进行了实时观测.BET薄膜c畴发生180°畴变的最小电压为+6 V,而r畴由于其高四方性,即使极化电压增至+12 V也不会发生翻转.薄膜的铁电性主要源于c畴的极化,随着退火温度的升高,c畴的区域面积增加,BET薄膜的剩余极化强度随之增大.退火温度为700 ℃的BET薄膜剩余极化强度达到84 μC/cm2.

关键词：铁电薄膜、电畴翻转、扫描探针显微镜

所属期刊栏目：60

分类号：O4(物理学)

资助基金：湖南永州市科技局项目永科发[2009]20号

在线出版日期：2011-06-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：669-674