低能He2+入射He原子转移电离实验中出射电子成像研究

摘要：

利用反应显微谱仪对70 keV He2+-He转移电离过程中的出射电子进行了成像,研究了出射电子的空间速度分布特征.结果表明:电子主要集中在散射平面内;在散射平面内,电子速度分布介于零与入射离子速度Vp之间(即前向出射)且在散射离子和靶核核间轴处有一极小值,呈现出典型的双峰结构.出射电子的上述分布特征可由出射电子波函数σ振幅和π振幅的干涉进行定性解释,σ振幅和π振幅对出射电子波函数的贡献与碰撞参数相关.在小碰撞参数下,π振幅的贡献更加明显;而在大碰撞参数下,σ振幅的贡献更加显著.

关键词：反应显微谱仪、转移电离、电子速度分布、σ振幅和π振幅干涉

所属期刊栏目：59

分类号：O4(物理学)

资助基金：国家自然科学基金10434100;10979007

在线出版日期：2011-03-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：8471-8477