利用偏振干涉成像光谱仪进行偏振检测的最佳角度分析

摘要：

利用偏振干涉成像光谱仪进行偏振探测,这一方法将偏振测量与干涉成像光谱技术相结合,一方面能提供辐射测量所不能提供的物体偏振信息,另一方面又可获取目标的空间图像和光谱,具有比辐射测量更高的准确度.在简要分析了利用偏振干涉成像光谱仪进行偏振检测的理论基础上,深入研究了偏振检测的方法,分析比较了目前常用的偏振探测角度(45°,60°)对偏振度探测的影响.进一步计算推导出偏振测量的最优探测角度,将之与以往常用的探测角度进行了分析比较,证明了此最佳探测角度可以有效地减小偏振误差、提高偏振探测的精度.这将极大地提高偏振干涉成像光谱仪的应用范围,为新型偏振干涉成像光谱技术的研究以及仪器研制提供重要的理论依据.

关键词：偏振检测、偏振干涉成像光谱仪、探测角、Savart偏光镜

所属期刊栏目：58

分类号：O4(物理学)

资助基金：国家自然科学基金重点项目40537031;国家高技术研究发展计划863计划2006AA12Z152;国防基础科学研究计划A1420080187;国家自然科学基金40875013;40375010;60278019;陕西省科技攻关计划2001K06-G12;2005K04-G18;西安交通大学科研计划资助的课题

在线出版日期：2009-06-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：2286-2293