极化子荧光及其断层扫描对Ti:LiNbO3光波导表征研究

摘要：

小极化子(NbLi4+)荧光处于700-950 nm谱段,对不同化学还原程度同组分的纯铌酸锂晶体的研究表明荧光的强度反映了化学还原程度的强弱.从小极化子浅层能级出发,提出以"1中心3级态跃迁"来描述小极化子的受激荧光过程.钛扩散铌酸锂光波导(Ti:LiNbO3)表面还原程度的均匀性可能在波导制造的热扩散过程中被破坏.在对铌酸锂波导表面、深部的扫描结果中,荧光的强度呈现出表面与深部、波导内与外的差异,表面的强度是深部的6-8倍.研究表明,利用非损伤性的极化子荧光谱,对加工过程热处理进行检控是非常有效的.同时,波导内与外的荧光强度差异间接反映了波导的横切面的外形.

关键词：极化子、荧光谱、还原程度、Ti:LiNbO3光波导

所属期刊栏目：56

分类号：TN2(光电子技术、激光技术)

资助基金：重庆市科委自然科学基金CSTC2005BB4047;教育部留学回国人员科研启动基金2005.383

在线出版日期：2007-03-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：280-284