多壁碳纳米管束储氢机理的X射线吸收谱研究

摘要：

采用X射线吸收精细结构光谱探索性地研究了多壁碳纳米管束.在多壁碳纳米管束不同入射角的X射线吸收精细结构光谱中,观察到C-H σ*共振峰强度随入射角的变化而发生变化.在常温常压下出现C-H键可能与多壁碳纳米管束中存在缺陷有关,缺陷数量越大C-H σ*共振峰的强度越大.光谱中C-C π*和C-C σ*共振峰强度的变化趋势都不同于C-H σ*共振峰,这有力地证明了在常温常压条件下氢原子是吸附在多壁碳纳米管内表面的缺陷上.这些结果表明X射线吸收精细结构光谱是表征碳纳米管的有力工具.

关键词：X射线吸收精细结构光谱、碳纳米管、储氢、化学吸附

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分类号：O4(物理学)

资助基金：高等学校博士学科点专项科研项目20040532014;国家重点实验室基金20041006G

在线出版日期：2006-10-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：4197-4201