超高精细度光学腔中低损耗的测量

摘要：

对高精细度光学腔的微弱损耗进行了测量.利用不同扫描速度下的腔衰减振荡信号,得到了腔的衰荡时间.通过与相同镜面组成的超短微腔的直接精细常数的测量对比,说明了这种方法的可靠性.本实验通过对所得到的光腔衰荡信号的衰荡时间、衰荡强度变化进行计算处理得到光学腔的精细度为F=(2.13±0.09)×105;得到腔镜的反射率为R=0.0999852±0.0000006,即腔的总损耗为(29.50±1.24)ppm.由于该腔的线宽在100kHz以下,远低于一般的半导体激光器线宽,因此可以利用此腔来测其线宽.实验中测得DBR半导体激光器的线宽为1.49MHz.

关键词：超高精细度、F-P腔、腔衰荡

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分类号：O4(物理学)

资助基金：国家自然科学基金60178006,69928504,10374062;高等学校优秀青年教师教学科研奖励计划;教育部留学回国人员科研启动基金;山西省青年基金20031002

在线出版日期：2004-07-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1401-1405