10.3321/j.issn:1000-3290.2002.10.030
Co/Cu(111)薄膜生长和退火过程中的扩散
利用同步辐射角分辨光电子能谱和俄歇电子能谱研究了Co/Cu(111)分子束外延薄膜在生长和退火过程中的电子结构.实验发现:随着Co膜厚度的增加,Cu的s-dz2杂化带能级位移相应增大,证实了界面间发生了互混;退火过程中存在表面扩散,而非通过界面的体扩散.并把这两种不同过程的扩散的内在动力归结为Co的表面自由能显著大于Cu的表面自由能.
表面扩散和界面混合物形成、固体表面能、表面态和能带结构
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O4(物理学)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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