金属氧化物超导陶瓷Y-123体系烧结过程与结构缺陷的正电子实验研究

摘要：

利用正电子湮没技术，结合X-射线衍射和扫描电子显微镜结构分析，对Y-123超导体烧结过程进行了研究，给出了烧结时间、烧结温度对该体系结晶度和晶体结构的影响特征，发现在950℃温度烧结下，随烧结时间的增加，Y-123体系的正交畸变度增加；而就整体而言，正电子平均寿命随烧结温度和烧结时间增加而增加，并趋于饱和。证明在烧结温度为920—950℃、烧结时间为12—72 h的实验条件下，Y-123超导材料中的缺陷分布趋于稳定。讨论了烧结过程中材料内部的缺陷变化特征。

关键词：正电子寿命谱、YBa2Cu3O7-δ超导体、烧结过程、晶体结构

所属期刊栏目：50

分类号：O4(物理学)

资助基金：国家自然科学基金19874017

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：550-555