SDRAM控制器设计及信号测试

摘要：

分析了同步动态随机存储器的特点和控制原理,实现了一种基于现场可编程门阵列的SDRAM控制器的设计方案,给出了一种利用嵌入式逻辑分析仪SignalTapⅡ分析测试SDRAM信号的方法.

关键词：SDRAM控制器、现场可编程门阵列(FPGA)、SignalTapⅡ

所属期刊栏目：29

分类号：TP332.3(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2007-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：596-598