失效个数极小情况下某继电产品的可靠性评定

摘要：

为了解决在Weibull单元的某继电产品寿命试验中无失效数据或失效数据极小情况下的可靠性评定问题，应用Bayes方法，研究了可靠性下限和可靠寿命下限的解法，结果可适用于寿命试验或加速寿命实验中的II型截尾和I型截尾.

关键词：Weibull分布、可靠性分析、寿命试验

所属期刊栏目：23

分类号：O342,TB330.1(固体力学)

在线出版日期：2004-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：70-71,74