一种ECC加固SRAM空间可靠性评估算法

摘要：

在SRAM抗辐射加固设计中,纠错编码(Error Correcting Code,ECC)是一种解决空间环境中SRAM单粒子翻转效应的有效方法.但目前国内外对于基于ECC加固的SRAM可靠性评估体系的研究并不完全成熟,还没有一个统一的标准.基于空间环境下SRAM所产生软错误的错误分布图样特性和错误重叠特性,对已有的基于ECC加固的SRAM空间可靠性评估方案进行修正,得到了一种更加精确的评估模型.

关键词：单粒子效应、纠错编码、评估算法、静态随机存储器加固

所属期刊栏目：46

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：航空科学基金资助项目20090580013,20110580002;中央高校基础研究基金资助项目ZYGX2011J131

在线出版日期：2016-06-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：267-272