XRF在外壳镀层厚度测试中的正确应用

摘要：

介绍了在外壳检验中,应用X射线荧光光谱法(XRF),对外壳的镀涂层厚度进行测试;探讨了金属外壳镀镍涂层厚度的测试方法;论述了应用X射线荧光光谱法正确测量外壳镀层的方法.

关键词：X射线荧光光谱法、厚度测试、金属外壳、电镀、化学镀

所属期刊栏目：36

分类号：TN405.94(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2006-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：526-528