混合信号电子产品的自动测试技术

摘要：

电子产品微型化使自动测试成为必然,而边界扫描技术则使自动测试成为可能.文章分析了1149.4和1149.1标准的测试访问端口,以及测试逻辑结构和测试协议的异同,提出了模拟边界扫描单元ABM和数字边界扫描单元DBM的行为模型;在此基础上,详细阐述了两个标准在混合信号电子产品自动测试中的综合应用方法;最后,以典型的混合信号电路D/A转换器为例,对两个标准的综合应用进行了仿真验证.

关键词：混合信号、电子产品、自动测试、边界扫描、行为模型

所属期刊栏目：36

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2006-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：432-436