期刊专题

10.3969/j.issn.1004-3365.2006.02.025

Flip-around结构高速采样保持电路的设计

引用
分析了Flip-around结构采样保持电路产生失真的原因.采用增加哑开关管的自举开关,消除与输入有关的电荷注入和时钟馈通;采用增益增强技术,提高运算放大器的直流增益,并通过调整辅助运放的负载电容大小,实现主运放建立时间特性的优化.设计了一个Flip-around结构的高速采样保持电路;对电路各模块进行了功能仿真,给出了整个采样保持电路的仿真结果.

采样保持电路、增益增强、自举开关、时钟馈通

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TN402(微电子学、集成电路(IC))

2006-05-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

225-228

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微电子学

1004-3365

50-1090/TN

36

2006,36(2)

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