弹性分组环专用集成电路的可测性设计

摘要：

根据弹性分组环专用集成电路的具体情况,提出了相应的可测性设计(Design for Testability,DFT)方案,综合运用了三种DFT技术:扫描链、边界扫描测试和存储器内建自测试.介绍了三种技术的选取理由和原理,对其具体实现过程和结果进行了详细分析.DFT电路的实现大大降低了专用集成电路的测试难度,提高了故障覆盖率.

关键词：弹性分组环、专用集成电路、可测性设计、扫描链、边界扫描测试、存储器内建自测试

所属期刊栏目：36

分类号：TN602(电子元件、组件)

资助基金：国家科技攻关项目2002AA121041

在线出版日期：2006-05-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：197-200