数字电路的高层测试技术及其发展

摘要：

简要介绍了数字VLSI电路高层测试的概念,主要的高层测试方法,高层测试中所采用的故障模型及其与门级stuck-at故障的对应关系;并展望了高层测试技术的发展趋势.

关键词：数字电路、VLSI、高层测试、故障模型、可测性设计、测试综合

所属期刊栏目：36

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：中国科学院资助项目90207016

在线出版日期：2006-05-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：187-191