10/100 Base-T以太网物理层的硬件验证

摘要：

以10/100 Base-T以太网物理层的设计为基础,分别介绍了系统级芯片数字部分的硬件加速仿真,及借助FPGA实现数模混合验证的方法,并得出了两种验证方法的对比.最后,给出了10/100 Base-T以太网物理层芯片的流片结果.测试表明,整个系统的性能达到了设计要求.

关键词：10/100 Base-T、以太网物理层、验证、硬件仿真、现场可编程门阵列

所属期刊栏目：36

分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：上海市科委资助项目047062005

在线出版日期：2006-05-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：136-140,144