多输出电路跳变次数(TC)测试算法

摘要：

本文提出了一种多输出电路的改进TC测试法.该方法根据多输出电路的输入输出的函数关系把电路按输出分解,然后按照各个输出的相关输入,分别测试输出的响应,从而可以实现对多输出电路的测试,进而说明这种检测的完备性,进一步提出了一种加速测试的方法.

关键词：测试、TC测试、可测性

所属期刊栏目：30

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：61-64