MOS集成电路ESD保护技术研究

摘要：

重点论述了ESD失效模式失效机理和MOS集成电路ESD保护电路

关键词：静电放电、失效机理、ESD保护电路、栅耦合技术、共用放电线

所属期刊栏目：30

分类号：TN433(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：24-28