微孔缺陷对晶硅太阳电池性能的影响研究

摘要：

铸锭晶硅材料的微孔缺陷,是影响太阳电池光电转换性能的重要因素.本文对晶硅材料的微孔缺陷在电池工艺中的形态变化进行了研究,试验结果证实,该微孔缺陷是导致电池并联电阻降低的主要原因.本文利用透光测试技术分析了晶片中的微孔缺陷,结合激光扫描共聚焦显微(LSCM)技术对漏电区域的形貌进行分析研究,实验结果表明,微孔缺陷与电极重合将导致表面金属浆料的塌陷,是形成电池漏电的主要原因.

关键词：晶硅、太阳电池、缺陷、激光扫描共聚焦显微

分类号：TM914.41;TN304.12;TQ174

资助基金：国家高技术研究发展计划（863计划）863;2012 AA050301

在线出版日期：2014-12-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：27-29