CMOS图像传感器中A/D转换器的可测性设计

摘要：

模拟或混合集成电路设计过程早期,应充分考虑电路的可测性.CMOS图像传感器系统集成A/D转换器设计中,每级1.5位结构流水线A/D转换器适合于高分辨率、高速应用,同时具有良好的可测性.另外,位串行A/D转换器结构也具有较好的可测性,可应用于CMOS图像传感器系统.

关键词：CMOS图像传感器、A/D转换器、可测性设计

所属期刊栏目：14

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2004-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：13-16