电荷耦合器件型折射率测定仪的研制

摘要：

基于折射定律设计光路,利用线阵电荷耦合器件(CCD)对光斑位移进行检测,研制成功小型的能够测量透明介质折射率的仪器,设计的测量折射率的范围显著增加.介绍了该仪器设计的基本原理、使用方法,并通过对一些材料折射率的测量,证明其具有较高的测量准确性.

关键词：折射率、线阵电荷耦合器件、位移测量

所属期刊栏目：34

分类号：O435.1(光学)

资助基金：同济大学校科研和教改项目

在线出版日期：2006-08-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：981-984