期刊专题

10.3321/j.issn:0253-374X.2004.12.016

测量透明颗粒形状及变形的显微干涉系统

引用
结合激光干涉及图像处理技术研究测量透明颗粒形状及监测其变形的光学系统;对共路偏光干涉仪进行改进,使之更好地测量由温度场变化引起的小试件变形;对柱及球形试件进行理论和数值分析及实验研究.

偏光干涉仪、透明颗粒、共路干涉、图像处理、显微

32

O348(固体力学)

2005-01-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

1627-1630

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

同济大学学报(自然科学版)

0253-374X

31-1267/N

32

2004,32(12)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn