SoC的可测试性设计技术

摘要：

基于可复用的嵌入式IP(intellectual property)模块的系统级芯片(SoC)设计方法使测试面临新的挑战,需要研究开发新的测试方法和策略.结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点,着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案:IEEE P1500和虚拟插座接口联盟(VSIA)测试访问结构.

关键词：系统级芯片、可测试性设计、测试访问结构

所属期刊栏目：30

分类号：TP206(自动化技术及设备)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1271-1276