一款通用CPU的存储器内建自测试设计

摘要：

存储器内建自测试(memory built-in self-test,MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法.在一款通用CPU芯片的可测性设计(design-for-testability,DFT)中,MBIST作为cache和TLB的存储器测试解决方案被采用,以简化对布局分散、大小不同的双端口SRAM的测试.5个独立的BIST控制器在同一外部信号BistMode的控制下并行工作,测试结果由扫描链输出,使得测试时间和芯片引脚开销都降到最小.所采用的march 13n算法确保了对固定型故障、跳变故障、地址译码故障和读写电路的开路故障均达到100%的故障覆盖率.

关键词：存储器内建自测试、故障模型、march算法、可测性设计

所属期刊栏目：30

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划2001AA111100;国家自然科学基金69976002

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1204-1208