基于面阵CCD的高精度测量技术及应用

摘要：

针对图像尺寸测量,提出了一种基于面阵CCD的高精度测量技术和图像比较测量方法,通过时比被测零件的图像和标准件的图像,得出被测零件的尺寸.多项式插值的子像素细分算法和图像比较法的结合提高了边缘的定位精度,加速了运算速度.推导了一种基于多项式插值改进的子像素细分算法以及各种理论的应用技巧,工业高精度测量实例表明,最大偏差不超过0.01 mm.

关键词：CCD、测量、图像比较、工业应用

所属期刊栏目：41

分类号：TP274.5(自动化技术及设备)

在线出版日期：2009-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1443-1447