基于PLC间接寻址的变频器老化测试系统设计

摘要：

针对变频器批量组装完成后对其运行稳定性能测试的要求，设计一种基于S7-200 PLC控制的变频器老化测试电气控制系统，提出一种多工位测试多种型号、基于间接寻址的模块化编程方法，结合模块化硬件设计实现变频器的老化测试系统。该测试系统的软件结构性强，可靠性高，硬件运行稳定，易于设备维护更新。实际使用表明其在工业应用中具有较高的实用价值。

关键词：可编程序控制器、变频器老化测试系统、间接寻址、模块化设计

分类号：TP273+.1(自动化技术及设备)

资助基金：江苏省高等学校大学生实践创新训练计划资助项目201411054001Y

在线出版日期：2015-04-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：26-29