正则高阶微分系统带权第二特征值的上界

摘要：

考虑正则高阶微分系统带权第二特征值的上界估计．利用试验函数、Rayleigh定理、分部积分和Schwarz不等式等估计方法与技巧，获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式，其估计系数与区间的度量无关．其结果在物理学和力学中有着广泛的应用，在常微分方程的研究中起着重要的作用．

关键词：正则高阶微分系统、特征值、特征向量、上界

所属期刊栏目：23

分类号：O175.1(数学分析)

资助基金：苏州市职业大学青年基金资助项目2010SZDQ12

在线出版日期：2013-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：30-36